E3是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF)，專門用于鍍層厚度檢測；其核心部件采用美國進口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測機構(gòu)報告；精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國內(nèi)外同類儀器，特別針對大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測試即可達到精確的測試效果。
E3是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF)，專門用于鍍層厚度檢測；其核心部件采用美國進口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測機構(gòu)報告；精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國內(nèi)外同類儀器，特別針對大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測試即可達到精確的測試效果。 ● 根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試精準(zhǔn)度。
● 配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。
● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線
● 輻射標(biāo)志警示
● 儀器經(jīng)第三方檢測，X射線劑量率符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》
硬件技術(shù)
● X射線下照式，激光對焦可調(diào)樣品倉，對于異形不平整樣品，無需拆分打磨，可直接測試
● 模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對分析元素的影響，提高元素分辨率
● 最小光斑0.2mm，可針對各種樣品中的小測試點精確定位，避免材質(zhì)干擾，測量結(jié)果更準(zhǔn)確
● 空氣動力學(xué)設(shè)計，加速光管冷卻，有效降低儀器內(nèi)部溫度；設(shè)計
● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測試標(biāo)準(zhǔn)
軟件技術(shù)
● 分析元素：Na~U之間元素
● 分析時間：90秒
● 界面簡潔，模塊化設(shè)計，功能清晰，易操作
● 數(shù)據(jù)一鍵備份，一鍵還原、一鍵清理功能，保護用戶數(shù)據(jù)安全
● 根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試精準(zhǔn)度
● 配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。 探測器
● 類型：X123探測器（高性能電致冷半導(dǎo)體探測器）
● Be窗厚度：1mil
● 晶體面積：25mm2
● 分辨率：145eV
●信號處理系統(tǒng)：DP5
X射線管
●電壓：0-50v
●電流;2mA
●功率:50W
●靶材：Mo
●Be窗厚度：0.2mm
●使用壽命：大于2w小時
高壓電源
●輸出電壓：0-50Kv
●燈絲電流0-2mA
●功率：50w
●紋波系數(shù)：0.1%（p-p值）
●8小時穩(wěn)定性：0.05%
攝像頭
●焦距：微焦距
●驅(qū)動:免驅(qū)動
●像素：500萬像素
準(zhǔn)直器、濾光片
●系統(tǒng)：快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)
●材質(zhì)：多種材質(zhì)準(zhǔn)直器
●光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選
十字激光頭
●光斑形狀：十字線
●輸出波長：紅光650nm
●光學(xué)透鏡：玻璃透鏡
●尺寸：Φ10×30mm
●發(fā)散角度：0.1-2mrad
●工作電壓：DC 5V
●輸出功率：<5mW
●工作溫度：－10～50℃
其它配件
●開關(guān)電源：進口高性能開關(guān)電源
●散熱風(fēng)扇：進口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇
●外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （長x寬x高）
●樣品倉尺寸：360mm×400mm x160（長x寬x高，高度可定制）
●儀器重量：50kg
●供電電源：AC220V/ 50Hz
●功率：330W
●工作溫度：15-30℃
●相對濕度：≤85%，不結(jié)露
QQ:2568841715
