詳細(xì)摘要： 易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長(zhǎng)，有效地抑制了熱損傷。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：廣州市更新時(shí)間：2024-11-24 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備
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詳細(xì)摘要： 易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長(zhǎng)，有效地抑制了熱損傷。
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詳細(xì)摘要： IB-19520CCP在加工過(guò)程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢...
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詳細(xì)摘要： 為了滿足市場(chǎng)多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。
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詳細(xì)摘要： JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨...
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詳細(xì)摘要： 隨著材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過(guò)程的復(fù)雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評(píng)估技術(shù)也對(duì)分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察...
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詳細(xì)摘要： 用于光學(xué)薄膜及電極膜等各種薄膜形成的電子束蒸鍍用電子槍/電源
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詳細(xì)摘要： 和偏轉(zhuǎn)型電子槍結(jié)合使用，用作電子束蒸鍍的高壓電源
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詳細(xì)摘要： JEBG系列大功率電子槍是在真空中蒸發(fā)或熔解金屬及氧化物的大功率電子束發(fā)生源，能在不斷輸送中的寬幅塑料和大面積玻璃基板上高速率地連續(xù)鍍膜，此外在電子束熔煉時(shí)，可...
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詳細(xì)摘要： 是濺射、刻蝕、CVD、離子鍍等薄膜制備/加工使用的、用于生成等離子體的13.56MHz高頻電源（RF電源）
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詳細(xì)摘要： 肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡能長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針，與View®2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對(duì)樣品進(jìn)行自動(dòng)切割，自動(dòng)獲取圖像。通...
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詳細(xì)摘要： 可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
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詳細(xì)摘要： 2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場(chǎng)發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個(gè)領(lǐng)域，并獲得了的贊譽(yù)。研發(fā)的第三代場(chǎng)發(fā)射電子探針JX...
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詳細(xì)摘要： JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更的一體化集成FE-EPM...
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詳細(xì)摘要： JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更的一體化EPMA。
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詳細(xì)摘要： JEOL新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時(shí)，操作性能極大簡(jiǎn)單化。該設(shè)備不依賴操作者的...
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詳細(xì)摘要： JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，一個(gè)新開(kāi)發(fā)的操作GUI“SEM Cen...
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詳細(xì)摘要： JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡
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詳細(xì)摘要： JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無(wú)縫操作，使用更加方...
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詳細(xì)摘要： JEOL InTouchScope™系列的新機(jī)型, 采用新開(kāi)發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間...
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詳細(xì)摘要： 日常使用的SEM，好用！ 該設(shè)備分辨率1nm、探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測(cè)和分析信息，用戶界面操作簡(jiǎn)單、設(shè)計(jì)緊湊、配備大樣品室。
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