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銅箔測(cè)厚儀的技術(shù)資料
最近更新時(shí)間：2011-6-15
提 供 商：濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司資料大?。?/span>237.2KB
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詳細(xì)介紹：
銅箔測(cè)厚儀可用于銅箔厚度的檢測(cè)，測(cè)試分辯率高達(dá)0.1微米，*銅箔對(duì)厚度高精度測(cè)試的要求。測(cè)試幅面寬度可以達(dá)到400mm，*銅箔整個(gè)幅面厚度測(cè)試的要求。
Labthink蘭光擁有*的檢測(cè)技術(shù)與專業(yè)實(shí)驗(yàn)室，致力于為范圍醫(yī)藥、、日化、包裝、印刷、膠粘劑、汽車、石化、環(huán)境、生物、新能源、建筑、航空及電子領(lǐng)域客戶提供zui、zui全面的品質(zhì)控制解決方案。
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