TDR阻抗測(cè)試儀TDR阻抗測(cè)試儀
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
愛思達(dá)TDR阻抗測(cè)試儀也稱特性阻抗測(cè)試儀,線路板阻抗測(cè)試儀。它是采用時(shí)域反射技術(shù)設(shè)計(jì)的,能夠批量化、自動(dòng)化、快速、準(zhǔn)確測(cè)試PCB跡線的特性阻抗,并提供測(cè)試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告并打印等功能。適用于電路板制造廠商的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及品管單位。為高頻線路板特性阻抗測(cè)試提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。
愛思達(dá)特性阻抗測(cè)試儀有著Windows操作環(huán)境,友好的人機(jī)界面,自動(dòng)出具測(cè)試結(jié)果且能更好的提供單端和差分阻抗測(cè)試。它不僅支持2通道、4通道及8通道測(cè)試而且能快速定制測(cè)試任務(wù)及批量化、自動(dòng)化測(cè)試功能。愛思達(dá)特性阻抗測(cè)試儀能快速的集成測(cè)試文件編輯器,設(shè)置測(cè)試參數(shù)。自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù),生成報(bào)表并保存在磁盤上。并且能顯示測(cè)試波形、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析及測(cè)試結(jié)果及打印測(cè)試報(bào)表、波形及測(cè)試結(jié)果。
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