不僅做動(dòng)態(tài)老化,還具備DUT(受測(cè)器件:Device Under Test)的輸出信號(hào)監(jiān)視功能。用這個(gè)功能對(duì)DUT的動(dòng)作進(jìn)行監(jiān)視,防止篩選漏網(wǎng),主要試驗(yàn)對(duì)象為SDRAM,SRAM等內(nèi)存類。
【詳細(xì)說(shuō)明】
不僅做動(dòng)態(tài)老化,還具備DUT(受測(cè)器件:Device Under Test)的輸出信號(hào)監(jiān)視功能。用這個(gè)功能對(duì)DUT的動(dòng)作進(jìn)行監(jiān)視,防止篩選漏網(wǎng),主要試驗(yàn)對(duì)象為SDRAM,SRAM等內(nèi)存類,CPU,ASIC,系統(tǒng)LSI等邏輯裝置,也對(duì)應(yīng)各種MOS形的IC。
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